| 发明名称 | 测量涂覆量的方法和预测溶出行为的方法 | ||
| 摘要 | 使用近红外光谱的评测方法通常具有低的特异性，并特别在痕量成分的评测中遇到困难。通过近红外光谱法精确测量涂覆物的量一直是困难的。为解决此问题，根据涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射测量施用到涂覆对象(例如颗粒或未涂覆片剂)上的涂覆物的量。优选使用聚乙二醇或含长链烃基的化合物作为该添加剂。 | ||
| 申请公布号 | CN101107510A | 申请公布日期 | 2008.01.16 |
| 申请号 | CN200680002747.4 | 申请日期 | 2006.02.02 |
| 申请人 | 卫材R&D管理有限公司 | 发明人 | 横山诚;鹈饲宏治 |
| 分类号 | G01N21/35(2006.01);A61K9/36(2006.01);A61K47/10(2006.01);A61K47/12(2006.01);A61K47/14(2006.01);A61K47/34(2006.01);A61K47/38(2006.01);G01N33/15(2006.01) | 主分类号 | G01N21/35(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 林柏楠;刘金辉 |
| 主权项 | 1.测量施用到涂覆对象上的涂覆物的量的方法，包括利用涂在涂覆对象上的添加剂测量800至1100纳米波长范围的光的吸收或散射，以获得测量值。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||