发明名称 单晶氮化镓基板及其生长方法与制造方法
摘要 一种单晶氮化镓基板的生长方法,在衬底基板上有规律地设种子图案,在其长形成凹凸面构成的坑并加以维持,同时让GaN凹凸生长而接着坑底部形成封闭缺陷集合区H,将变位集结于此,实现封闭缺陷集合区H周围的单晶低变位伴随区Z与单晶低变位剩余区Y的低变位化。由于封闭缺陷集合区H是封闭的,所以变位被封闭不会再释放。
申请公布号 CN100362672C 申请公布日期 2008.01.16
申请号 CN200510120085.8 申请日期 2002.09.19
申请人 住友电气工业株式会社 发明人 元木健作;冈久拓司;中畑成二;弘田龙;上松康二
分类号 H01L33/00(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 H01L33/00(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汪惠民
主权项 1.一种单晶氮化镓基板,其特征在于在氮化镓基板表面具有:封闭缺陷集合区H——是贯通基板表面而延伸、内部含有多个缺陷集合而成的芯S、被晶粒界面K所区分开的封闭区域,和单晶低变位伴随区Z——伴随于封闭缺陷集合区H而在其周围形成的区域,以及单晶低变位剩余区Y——存在于单晶低变位伴随区Z的外部、具有同一晶体取向的区域。
地址 日本大阪府