发明名称 |
单晶氮化镓基板及其生长方法与制造方法 |
摘要 |
一种单晶氮化镓基板的生长方法,在衬底基板上有规律地设种子图案,在其长形成凹凸面构成的坑并加以维持,同时让GaN凹凸生长而接着坑底部形成封闭缺陷集合区H,将变位集结于此,实现封闭缺陷集合区H周围的单晶低变位伴随区Z与单晶低变位剩余区Y的低变位化。由于封闭缺陷集合区H是封闭的,所以变位被封闭不会再释放。 |
申请公布号 |
CN100362672C |
申请公布日期 |
2008.01.16 |
申请号 |
CN200510120085.8 |
申请日期 |
2002.09.19 |
申请人 |
住友电气工业株式会社 |
发明人 |
元木健作;冈久拓司;中畑成二;弘田龙;上松康二 |
分类号 |
H01L33/00(2006.01);H01L21/20(2006.01);H01S5/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L33/00(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汪惠民 |
主权项 |
1.一种单晶氮化镓基板,其特征在于在氮化镓基板表面具有:封闭缺陷集合区H——是贯通基板表面而延伸、内部含有多个缺陷集合而成的芯S、被晶粒界面K所区分开的封闭区域,和单晶低变位伴随区Z——伴随于封闭缺陷集合区H而在其周围形成的区域,以及单晶低变位剩余区Y——存在于单晶低变位伴随区Z的外部、具有同一晶体取向的区域。 |
地址 |
日本大阪府 |