| 发明名称 | 探针检查装置 | ||
| 摘要 | 一种用于检查至少一探针设置于一探针承座的装设情形的探针检查装置，探针的至少一部分凸出于探针承座。探针检查装置包含一第一高度挡块、一第二高度挡块以及一高度基准元件。第一高度挡块设置于探针承座；第二高度挡块设置于探针承座。高度基准元件连结第一高度挡块及第二高度挡块，且高度基准元件具有一高度基准面，推动高度基准元件时，高度超过高度基准面的探针将阻止高度基准元件的移动。 | ||
| 申请公布号 | CN100362357C | 申请公布日期 | 2008.01.16 |
| 申请号 | CN200410032176.1 | 申请日期 | 2004.04.01 |
| 申请人 | 华硕电脑股份有限公司 | 发明人 | 郑长科;郑君风;王志鸿;李祥铭 |
| 分类号 | G01R31/01(2006.01);G01R35/00(2006.01) | 主分类号 | G01R31/01(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 文琦;陈肖梅 |
| 主权项 | 1.一种探针检查装置，用于检查至少一探针设置于一探针承座的装设情形，该探针的至少一部分凸出该探针承座，该探针检查装置包含：一第一高度挡块，其设置于该探针承座；一第二高度挡块，其设置于该探针承座；以及一高度基准元件，连结该第一高度挡块及该第二高度挡块，且该高度基准元件具有一高度基准面，推动该高度基准元件时，高度超过该高度基准面的该探针会阻止该高度基准元件的移动。 | ||
| 地址 | 台湾省台北市 | ||