发明名称 |
具有灰度滤波器的波前传感器及包括该传感器的光刻设备 |
摘要 |
一种用于测量辐射束的相位分布和/或投射系统的光瞳分布的辐射分布测量系统包括透明承板、配置在透明承板第一侧的光栅和/或针孔、以及在透明承板对侧的摄像机。测量系统还包括在透明承板和摄像机之间的辐射滤波器,其透射率在滤波器中心处最低并向滤波器外侧逐渐并同心增大。通过放置具有其特定透射率的滤波器,在波前传感器10上的强度差异(即强度梯度)得到补偿。入射到摄像机上的光强度就更均匀,得到改进的测量系统性能。 |
申请公布号 |
CN101105639A |
申请公布日期 |
2008.01.16 |
申请号 |
CN200710111953.5 |
申请日期 |
2007.06.14 |
申请人 |
ASML荷兰有限公司 |
发明人 |
A·J·范德西斯;H·V·科克 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
1.一种辐射分布测量系统,配置成测量辐射束的相位分布和/或投射系统的光瞳分布,所述测量系统包括:透明承板;光栅和/或针孔,配置在所述透明承板的第一侧;摄像机,配置在与所述透明承板的第一侧相对的第二侧;以及辐射滤波器,配置在所述透明承板和所述摄像机之间,所述辐射滤波器具有的透射率在所述滤波器中心处最低,并向所述滤波器外侧逐渐并同心增大。 |
地址 |
荷兰费尔德霍芬 |