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发明名称
HIGH BANDWIDTH PASSIVE INTEGRATED CIRCUIT TESTER PROBE CARD ASSEMBLY
摘要
申请公布号
KR100793501(B1)
申请公布日期
2008.01.14
申请号
KR20077006242
申请日期
2007.03.19
申请人
发明人
分类号
G01R1/073;G01R1/067
主分类号
G01R1/073
代理机构
代理人
主权项
地址
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