发明名称 涂覆表面的方法
摘要 本发明系有关于一种以层依层方式在聚合性材料上形成聚离子材料涂覆物之方法。聚合性材料,例如隐形眼镜,可在聚离子材料中浸渍一次使聚离子材料的层可于其上形成。本发明之单次浸渍溶液典型地含有非化学计量数量之聚阴离子材料和聚阳离子材料且维持在特定之酸硷值范围之内。
申请公布号 TWI292410 申请公布日期 2008.01.11
申请号 TW090102151 申请日期 2001.02.02
申请人 诺华公司 发明人 里恩. 库克. 温特顿;约翰. 马汀. 雷利;麦可F. 路伯纳;邱洋新
分类号 C08J7/00(2006.01);B05D1/36(2006.01) 主分类号 C08J7/00(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 1.一种涂覆聚合性基质之方法,该基质包括疏水性 聚矽氧烷、全氟烷基聚醚、氟化聚丙烯酸酯或-甲 基丙烯酸酯,且该基质无阴离子或阳离子基团,该 方法包含下列步骤: 形成一溶液,该溶液含有荷负电荷材料,其为聚丙 烯酸,和选自聚(乙烯亚胺)及聚(烯丙基胺氢氯酸盐 )所组成之族群中之荷正电荷材料之数量为该溶液 之莫耳电荷比率为由约3:1至约100:1; 维持该溶液之酸硷値在一范围之内,使得荷负电荷 材料和荷正电荷材料在溶液中可维持稳定;及 施加溶液至基质上而形成涂覆物,在基质上之涂覆 物具有至少二层,因此其中一层包含荷负电荷材料 而且另一层包含荷正电荷材料。 2.根据申请专利范围第1项之方法,其中莫耳电荷比 率为约10:1。 3.根据申请专利范围第1项之方法,其中荷负电荷材 料包含添加剂且系选自包含抗微生物剂和抗菌剂 所组成之族群中。 4.根据申请专利范围第1项之方法,其中荷负电荷材 料包含聚丙烯酸且荷正电荷材料包含聚(烯丙基胺 氢氯酸盐),及其中含有聚丙烯酸和聚(烯丙基胺氢 氯酸盐)之溶液之酸硷値系维持在约2.5之数値。 5.根据申请专利范围第1项之方法,其中荷正电荷材 料包含添加剂且系选自包含抗微生物剂和抗菌剂 所组成之族群中。 6.根据申请专利范围第1项之方法,其中荷负电荷材 料在该溶液中为主要量。 7.根据申请专利范围第1项之方法,其中荷正电荷材 料在该溶液中为主要量。 8.根据申请专利范围第1项之方法,其中该溶液之酸 硷値维持在适当酸硷値范围的0.5之间,较佳为0.1 之间,该适当酸硷値范围依所选用之荷负电荷材料 和荷正电荷材料而定。 9.根据申请专利范围第1项之方法,其进一步包含之 步骤为在浸渍基质于溶液中之前预处理该基质,其 中该基质系以底漆层涂覆物预处理,该底漆层涂覆 物藉由将基质浸渍于含有底漆层材料之溶液而施 加至基质之上。 10.根据申请专利范围第9项之方法,其中基质之预 处理之步骤为: 制备包含溶剂和至少一种聚离子材料之溶剂溶液; 将基质于溶剂溶液中溶胀; 基质于溶剂溶液中溶胀之后将基质由之移出;及 收缩基质使至少一种聚离子材料捕获在基质之间 。 11.根据申请专利范围第10项之方法,其中该溶剂包 含醇,较佳为异丙醇。 12.根据申请专利范围第1项之方法,其中涂覆物之 厚度为由约40埃至约2000埃。 13.根据申请专利范围第1项之方法,其中系将基质 浸渍于溶液中因此于其上形成涂覆物。 14.根据申请专利范围第13项之方法,其中该基质之 涂覆系为使用该溶液浸渍一次。 15.根据申请专利范围第13项之方法,其中该基质之 涂覆系为使用该溶液浸渍二至五次。 16.根据申请专利范围第1项之方法,其中该基质包 含塑模且进一步包含之步骤为: 将聚合性材料分散于塑模内; 熟化该聚合性材料使该涂覆物在熟化期间由塑模 上移除且至少部份地与聚合性材料之外部表面接 触;及 熟化之聚合性材料自塑模中移除,该聚合性料系已 使用至少一部份该溶液涂覆。 17.一种涂覆聚合性材料之方法,其包含之步骤为: 形成一聚离子溶液,该聚离子溶液含有聚阴离子材 料和聚阳离子材料之数量为该溶液之莫耳电荷比 率为低于约10:1; 维持该溶液之酸硷値在一范围之内,使得聚阴离子 材料和聚阳离子材料在聚离子溶液中可维持稳定; 提供基质; 将基质于溶剂中溶胀; 基质于溶剂中溶胀之后将基质由之移出;及 浸渍基质于溶液之中而于其上形成涂覆物,经涂覆 之基质具有至少二层,其中一层包含聚阴离子材料 而且另一层包含聚阳离子材料。
地址 瑞士