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发明名称
Prüfungsschaltung zur Messung des Ausganspotentials einer Spannungserhöhungsschaltung in einer Halbleiter-IC-Schaltung
摘要
申请公布号
DE69936039(T2)
申请公布日期
2008.01.10
申请号
DE19996036039T
申请日期
1999.12.23
申请人
SHARP K.K.
发明人
KAWAI, KEN
分类号
G11C17/00;G11C29/00;G01R31/28;G11C29/02;G11C29/12;G11C29/50
主分类号
G11C17/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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