发明名称 半导体器件及其制造方法
摘要 提供一种半导体器件,包括:硅衬底;彼此间隔、彼此平行的至少两个沟槽,并且通过从其表面垂直地刻蚀硅衬底形成;用于掩埋至少该沟槽的底面的电绝缘膜;基极区形成在位于该两个沟槽之间的硅衬底的区域中;发射极区和集电极区分别地形成在沟槽的侧壁部分上,该侧壁部分位于绝缘膜之上并且形成在该基极区中。
申请公布号 CN101101921A 申请公布日期 2008.01.09
申请号 CN200710128863.7 申请日期 2007.05.29
申请人 精工电子有限公司 发明人 津村和宏
分类号 H01L29/732(2006.01);H01L29/08(2006.01);H01L21/331(2006.01) 主分类号 H01L29/732(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘杰;刘宗杰
主权项 1.一种半导体器件,包括:硅衬底;至少两个彼此间隔并且彼此平行的沟槽,垂直地设置到硅衬底的表面;填充至少该沟槽的每个底面的电绝缘膜;设置在该两个沟槽之间的基极区;和沿着沟槽的侧壁部分分别设置的发射极区和集电极区,该部分在该绝缘膜之上并且位于该基极区中。
地址 日本千叶县千叶市