发明名称 |
半导体器件及其制造方法 |
摘要 |
提供一种半导体器件,包括:硅衬底;彼此间隔、彼此平行的至少两个沟槽,并且通过从其表面垂直地刻蚀硅衬底形成;用于掩埋至少该沟槽的底面的电绝缘膜;基极区形成在位于该两个沟槽之间的硅衬底的区域中;发射极区和集电极区分别地形成在沟槽的侧壁部分上,该侧壁部分位于绝缘膜之上并且形成在该基极区中。 |
申请公布号 |
CN101101921A |
申请公布日期 |
2008.01.09 |
申请号 |
CN200710128863.7 |
申请日期 |
2007.05.29 |
申请人 |
精工电子有限公司 |
发明人 |
津村和宏 |
分类号 |
H01L29/732(2006.01);H01L29/08(2006.01);H01L21/331(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/732(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
刘杰;刘宗杰 |
主权项 |
1.一种半导体器件,包括:硅衬底;至少两个彼此间隔并且彼此平行的沟槽,垂直地设置到硅衬底的表面;填充至少该沟槽的每个底面的电绝缘膜;设置在该两个沟槽之间的基极区;和沿着沟槽的侧壁部分分别设置的发射极区和集电极区,该部分在该绝缘膜之上并且位于该基极区中。 |
地址 |
日本千叶县千叶市 |