发明名称 | 一种光电式大直径测量装置 | ||
摘要 | 一种光电式大直径测量装置,属于光电检测技术领域中涉及的一种测量装置,要解决的技术问题是:提供一种光电式大直径测量装置。技术方案包括:被测工件、定位块、工作台、光栅尺、电缆导线、数显箱、光具座、导轨、安装块;定位块通过它们的磁性块安装在被测工件的两侧的对径位置上;两条导轨平行的固定在工作台的台面上,光栅尺通过安装块固定在工作台的台面上,光栅尺与导轨平行;光具座安装在导轨上,能在导轨上移动,光具座的激光光路光轴与两根导轨垂直,在工作时激光光路光轴对准定位块上的瞄准狭缝;光栅尺读数头通过电缆导线与数显箱的输入端连接。该装置测量精度高,工作稳定、受环境影响小,是比较适用的测量大直径工件的测量装置。 | ||
申请公布号 | CN101101198A | 申请公布日期 | 2008.01.09 |
申请号 | CN200610016997.5 | 申请日期 | 2006.07.07 |
申请人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明人 | 艾华;李琳;韩旭东 |
分类号 | G01B11/08(2006.01) | 主分类号 | G01B11/08(2006.01) |
代理机构 | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人 | 赵炳仁 |
主权项 | 1、一种光电式大直径测量装置,包括被测工件、定位块,其特征在于还包括工作台(14)、光栅尺(15)、电缆导线(16)、数显箱(17)、光栅尺读数头(18)、光具座(19)、导轨(20)、安装块(21)和(22);结构相同的两个定位块(12)和(13),通过它们的磁性快(23)安装在被测工件(11)的两侧的对径位置上,两个定位块上的瞄准狭缝(25)的朝向相同,它们的延长线在同一条直线上;两条导轨(20)平行的固定在工作台(14)的台面上,光栅尺(15)通过安装快(21)和(22)固定在工作台(14)的台面上,位于导轨(20)的外侧,光栅尺(15)与导轨(20)平行,光具座(19)通过光具座底板(34)安装在导轨(20)上,能在两根导轨(20)上移动,光具座(19)的激光光路光轴与两根导轨(20)垂直,在工作时激光光路光轴对准定位块上的瞄准狭缝(25);光栅尺读数头(18)与光具座底板(34)固连,并随光具座(19)的移动沿光栅尺(15)的长度方向移动,光栅尺读数头(18)通过电缆导线(16)与数显箱(17)的输入端连接。 | ||
地址 | 130031吉林省长春市东南湖大路16号 |