发明名称 |
Plasmaprozesssystem mit einer elektrostatischen Probenhalteanordnung und Verfahren zur Entkopplung einer DC-Spannungsquelle |
摘要 |
Bei einem Plasmaprozesssystem (1) mit einem HF-Leistungsgenerator (11), der einer Plasmakammer (9) eine HF-Leistung zuführt, und einer eine Elektrode (8), eine DC-Spannungsquelle (2) und eine in der elektrischen Verbindung zwischen Elektrode und DC-Spannungsquelle (2) angeordnete Filtereinrichtung (7) umfassenden elektrostatischen Probenhalteanordnung weist die Filtereinrichtung (7) zumindest ein dissipatives Bauteil (R2) auf. Der Einfluss von unerwünschten Schwingungen auf die DC-Spannungsquelle (2) kann dadurch verringert werden.
|
申请公布号 |
DE102006030801(A1) |
申请公布日期 |
2008.01.03 |
申请号 |
DE200610030801 |
申请日期 |
2006.06.30 |
申请人 |
HUETTINGER ELEKTRONIK GMBH + CO. KG |
发明人 |
MANN, EKKEHARD;FRITSCH, CHRISTIAN |
分类号 |
H05H1/46 |
主分类号 |
H05H1/46 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|