| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur regelmäßigen Überwachung der Funktion von Schutzdioden, MOSFETs oder sonstigen entsprechenden Leistungshalbleitern einzelner Solar-Panels, die es ermöglicht, die Panels vor Überhitzung zu schützen. Die Erfindung zeichnet sich zudem dadurch aus, dass mit ihr defekte Dioden oder Panels mit geringen Aufwand lokalisiert werden können. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass für jedes Solar-Panel (1) Kurzschlüsse der Schutzdioden, MOSFETs oder sonstiger entsprechender Leistungshalbleiter (3) durch ständige Kontrolle der Ausgangsspannung der Panels (1) während deren Aktivität und auf Ausfall auf Grund von Unterbrechungen überwacht werden. |
