发明名称 |
一种用于测试仪的分时测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种用于测试仪的分时测试方法,包括,根据被测对象的测试特性和方法,将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项;将上位机软件处理时间分片,在单个时间片内,上位机只与一个下位机进行通讯,依次完成所有下位机通讯,如此循环,直至所有的被测对象测试完成;上位机软件查询到所有的被测对象都测试完成,测试结束,退出测试程序。采用本发明所述方法,与传统测试仪一次测试一个被测对象比较,通过分时测试,充分利用上位机性能,与多个下位机进行交互,同时完成多个被测对象,提高了测试效率;分时测试充分利用了测试仪资源,降低了测试仪成本。 |
申请公布号 |
CN101098359A |
申请公布日期 |
2008.01.02 |
申请号 |
CN200610090462.2 |
申请日期 |
2006.06.27 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
傅佳芳;黄一川;汪步江;高延玲 |
分类号 |
H04M3/24(2006.01);G06F11/00(2006.01) |
主分类号 |
H04M3/24(2006.01) |
代理机构 |
北京中博世达专利商标代理有限公司 |
代理人 |
范晓燕 |
主权项 |
1、一种用于测试仪的分时测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、根据被测对象的测试特性和方法,将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项;步骤2、将上位机软件处理时间分片,在单个时间片内,上位机只与一个下位机进行通讯,依次完成所有下位机通讯,如此循环,直至所有的被测对象测试完成;步骤3、上位机软件查询到所有的被测对象都测试完成,测试结束,退出测试程序。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦6层法律部 |