发明名称 一种用于测试仪的分时测试方法
摘要 本发明公开了一种用于测试仪的分时测试方法,包括,根据被测对象的测试特性和方法,将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项;将上位机软件处理时间分片,在单个时间片内,上位机只与一个下位机进行通讯,依次完成所有下位机通讯,如此循环,直至所有的被测对象测试完成;上位机软件查询到所有的被测对象都测试完成,测试结束,退出测试程序。采用本发明所述方法,与传统测试仪一次测试一个被测对象比较,通过分时测试,充分利用上位机性能,与多个下位机进行交互,同时完成多个被测对象,提高了测试效率;分时测试充分利用了测试仪资源,降低了测试仪成本。
申请公布号 CN101098359A 申请公布日期 2008.01.02
申请号 CN200610090462.2 申请日期 2006.06.27
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 傅佳芳;黄一川;汪步江;高延玲
分类号 H04M3/24(2006.01);G06F11/00(2006.01) 主分类号 H04M3/24(2006.01)
代理机构 北京中博世达专利商标代理有限公司 代理人 范晓燕
主权项 1、一种用于测试仪的分时测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、根据被测对象的测试特性和方法,将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项;步骤2、将上位机软件处理时间分片,在单个时间片内,上位机只与一个下位机进行通讯,依次完成所有下位机通讯,如此循环,直至所有的被测对象测试完成;步骤3、上位机软件查询到所有的被测对象都测试完成,测试结束,退出测试程序。
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