| 发明名称 | 用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法 | ||
| 摘要 | 本发明为用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法，为数控机床的精度检测方法，解决已有检测方法精度不高，所用工具适用范围不广，操作不便的问题。位于数控机床工作台上的直角坐标机构将数控机床工作台与主轴的相对圆运动分解为X、Y两个方向的分量，用激光干涉仪测量出这两个分量值或它们的差值，根据测量值计算出圆运动的实际轨迹。 | ||
| 申请公布号 | CN101096073A | 申请公布日期 | 2008.01.02 |
| 申请号 | CN200710049397.3 | 申请日期 | 2007.06.29 |
| 申请人 | 成都工具研究所 | 发明人 | 羡一民;薛梅;黄绍怡;舒阳 |
| 分类号 | B23Q17/24(2006.01);G01B11/00(2006.01);G01B11/03(2006.01);G01B11/08(2006.01) | 主分类号 | B23Q17/24(2006.01) |
| 代理机构 | 成都立信专利事务所有限公司 | 代理人 | 冯忠亮 |
| 主权项 | 1、用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法，其特征在于位于数控机床工作台上的直角坐标机构将数控机床工作台与主轴的相对圆运动分解为X、Y两个方向的分量，用激光干涉仪测量出这两个分量值或它们的差值，根据测量值计算出圆运动的实际轨迹。 | ||
| 地址 | 610056四川省成都市府青路二段24号 | ||