发明名称 零组件的拆解及测试方法
摘要 一种零组件的拆解及测试方法能够正确且有效率地拆解零组件,以得到正确的零组件测试数据。此方法包括下列各步骤,首先判断此零组件可否拆解成多个部件。若此零组件可拆解成多个部件,则分别对此零组件的各部件作成分测试,以获得该零组件的该些部件的测试数据。若此零组件无法拆解成多个部件,则对此零组件作成分测试,以获得该零组件的测试数据。
申请公布号 CN101097221A 申请公布日期 2008.01.02
申请号 CN200610036228.1 申请日期 2006.06.30
申请人 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司 发明人 陈政顺
分类号 G01N35/00(2006.01);G01R31/00(2006.01) 主分类号 G01N35/00(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种零组件的拆解及测试方法,适于拆解及测试一零组件,该方法包括:(a)判断该零组件可否拆解成多个部件,若可的话,进行步骤(b),若否的话,进行步骤(c);(b)分别对该零组件的该些部件作成分测试,以获得该零组件的该些部件的测试数据;以及(c)对该零组件作成分测试,以获得该零组件的测试数据。
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