发明名称 带半导体恒温控制装置的惯性测量单元
摘要 本实用新型涉及一种带半导体恒温控制装置的惯性测量单元,包括惯性测量单元,惯性测量单元内设置有用于给所述惯性测量单元中各元器件进行降温或升温的半导体恒温控制装置,半导体恒温控制装置包括敏感工作温度的温度传感器,温度传感器的输出接到对该输出进行分析处理并输出控制信号的CPU计算模块,CPU计算模块的输出经D/A转换器接至功率驱动模块,功率驱动模块输出的+/-12伏驱动电压及控制驱动电压大小和方向的信号接至用于制冷或用于加热的制冷加热模块。本实用新型通过惯性测量单元内部通过CPU计算模块来控制制冷加热模块对内部工作环境制冷或加热,保持温度漂移最小的恒定温度,提高惯性测量单元测量的稳定性和精度。
申请公布号 CN201000330Y 申请公布日期 2008.01.02
申请号 CN200620164898.7 申请日期 2006.12.30
申请人 西安中星测控有限公司 发明人 谷荣祥;何永革;王革命
分类号 G01C21/16(2006.01);G05D23/30(2006.01) 主分类号 G01C21/16(2006.01)
代理机构 西安创知专利事务所 代理人 谭文琰
主权项 1.一种带半导体恒温控制装置的惯性测量单元,包括惯性测量单元,其特征在于,所述惯性测量单元内设置有用于给所述惯性测量单元中各元器件进行降温或升温的半导体恒温控制装置,所述半导体恒温控制装置包括敏感工作温度的温度传感器,所述温度传感器的输出接到对该输出进行分析处理并输出控制信号的CPU计算模块,所述CPU计算模块的输出经D/A转换器接至功率驱动模块,所述功率驱动模块输出的+/-12伏驱动电压及控制所述驱动电压大小和方向的信号接至用于制冷或用于加热的制冷加热模块。
地址 710075陕西省西安市高新区高新一路25号