发明名称 |
参数学方法及设备、模式识别方法及设备 |
摘要 |
一种参数学方法及设备、模式识别方法及设备。输入多个学数据,每个学数据与该学数据所属的类相关联。计算每个学数据中的特定k个部分的每一部分中的元素的属性值的统计量,其中,k等于或大于1。将每个学数据作为以所计算的k个统计量为元素的矢量映射到k维特征空间中。基于每个映射的学数据和学数据所属的类,在k维特征空间中学用于将输入数据分类到多个类中的一个的参数。通过使用该参数,可以高速和高准确度地进行模式识别。 |
申请公布号 |
CN101097564A |
申请公布日期 |
2008.01.02 |
申请号 |
CN200710122723.9 |
申请日期 |
2007.07.02 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
御手洗裕辅;真继优和;森克彦;鸟居宽;佐藤博 |
分类号 |
G06F15/18(2006.01);G06K9/66(2006.01) |
主分类号 |
G06F15/18(2006.01) |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
1.一种优化参数的方法,该参数用于将输入数据分类到多个类中的一个,该方法包括以下步骤:学习数据输入步骤,用于输入多个学习数据,每个学习数据与该学习数据所属的类相关联;计算步骤,用于计算每个学习数据中的特定k个部分的每一部分中元素的属性值的统计量,其中,k等于或大于1;映射步骤,用于将每个所述学习数据作为以所计算的k个统计量为元素的矢量映射到k维特征空间中;以及优化步骤,用于基于映射到所述k维特征空间中的每个所述学习数据和各学习数据所属的类,在所述k维特征空间中,优化用于将所述输入数据分类到所述多个类中的一个的参数。 |
地址 |
日本东京都 |