| 发明名称 |
电路检测方法与检测装置 |
| 摘要 |
一种电路检测方法，其包括以下步骤：提供一待测电路基板；在通电情况下，感测该待测电路基板的红外线强度与分布，得到一待测值；提供一红外线强度标准值；将该待测值与该标准值进行比较；判断该待测电路基板有无缺陷。该电路检测方法，检测电路通电时，利用其红外线强度与分布情况，来判断该待测电路基板有无缺陷的方法，可全面检测电路各元件，如主动元件、被动元件、金属线等有无缺陷。 |
| 申请公布号 |
CN101097239A |
申请公布日期 |
2008.01.02 |
| 申请号 |
CN200610061366.5 |
申请日期 |
2006.06.28 |
| 申请人 |
群康科技（深圳）有限公司;群创光电股份有限公司 |
发明人 |
颜硕廷 |
| 分类号 |
G01R31/02(2006.01);G01R31/00(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
1.一种电路检测方法，其包括以下步骤：提供一待测电路基板；在通电情况下，感测该待测电路基板的红外线强度与分布，得到一待测值；提供一红外线强度标准值；将该待测值与该标准值进行比较，判断该待测电路基板有无缺陷。 |
| 地址 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇富士康科技工业园E区4栋1层 |
