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发明名称
矽晶圆表面层之去除方法
摘要
本发明提供一种不使用液剂且不需要机械研磨作业及处理后之洗涤而可藉乾制程去除矽晶圆表面层,且即使多次再生、去除处理,仍可重复使用矽基材,可谋求有效使用矽基材之矽晶圆表面层之去除方法。例如,在真空容器2内配置阴极板3,在该阴极板3上载置附着200nm厚之SiN膜之表面层1a之矽晶圆1,在真空容器2内以4.7CCM导入CF4气,保持3mtorr,于磁通密度300高斯下利用RF电源5b施加输出200W,蚀刻10分钟。
申请公布号
TW200802590
申请公布日期
2008.01.01
申请号
TW096104871
申请日期
2007.02.09
申请人
九州电通股份有限公司
发明人
角谷省一;山田浩
分类号
H01L21/3065(2006.01)
主分类号
H01L21/3065(2006.01)
代理机构
代理人
陈长文
主权项
地址
日本
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