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发明名称
沈积相变记忆体之硫属化合物膜的方法
摘要
提供一种沈积相变记忆体之硫属化合物膜的方法。当经由诸如电浆增强化学气相沈积(PECVD)或电浆增强原子层沈积(PEALD)的使用电浆之方法来沈积相变记忆体之硫属化合物膜时,使用包括氦(He)之电浆反应气体,以调整硫属化合物膜之结晶性,并调整沈积膜的晶粒大小以及形态。
申请公布号
TW200801227
申请公布日期
2008.01.01
申请号
TW096118178
申请日期
2007.05.22
申请人
IPS股份有限公司
发明人
郑有;李起薰
分类号
C23C16/30(2006.01);C23C16/513(2006.01)
主分类号
C23C16/30(2006.01)
代理机构
代理人
詹铭文;萧锡清
主权项
地址
韩国
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