发明名称 沈积相变记忆体之硫属化合物膜的方法
摘要 提供一种沈积相变记忆体之硫属化合物膜的方法。当经由诸如电浆增强化学气相沈积(PECVD)或电浆增强原子层沈积(PEALD)的使用电浆之方法来沈积相变记忆体之硫属化合物膜时,使用包括氦(He)之电浆反应气体,以调整硫属化合物膜之结晶性,并调整沈积膜的晶粒大小以及形态。
申请公布号 TW200801227 申请公布日期 2008.01.01
申请号 TW096118178 申请日期 2007.05.22
申请人 IPS股份有限公司 发明人 郑有;李起薰
分类号 C23C16/30(2006.01);C23C16/513(2006.01) 主分类号 C23C16/30(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 韩国