发明名称 |
用于藉由使汲极及源极区凹陷而于电晶体中紧邻通道区提供应力源之技术 |
摘要 |
藉由使场效电晶体的汲极及源极区凹陷,可在凹处中形成高应力层(例如,接触蚀刻中止层)以便增进于邻近通道区中的应变产生。此外,藉由减少或避免金属矽化物之不当的松弛效应(relaxation effect),可使应变半导体材料位在紧邻通道区,从而也提供增进的应变产生效率。在一些态样中,可组合两种效果以得到甚至更有效率的应变引发机构。 |
申请公布号 |
TW200802803 |
申请公布日期 |
2008.01.01 |
申请号 |
TW096109293 |
申请日期 |
2007.03.19 |
申请人 |
高级微装置公司 |
发明人 |
韦 安迪;坎姆勒 索斯顿;候尼史奇尔 詹;郝斯特门 马弗雷;杰瓦卡 彼特;布鲁蒙史提 乔 |
分类号 |
H01L27/092(2006.01);H01L21/8238(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/092(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪武雄;陈昭诚 |
主权项 |
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地址 |
美国 |