| 主权项 |
1.一种半导体测试设备之插座结构,设于一托架上, 一半导体元件系以可拆卸关系固定于该托架上之 各载具上以进行电性连接并被测试,其中半导体测 试设备之插座结构包括有: 一插座板,电性连接于一外部测试设备,其中该插 座板具有复数个连接针脚,连接于一半导体之引脚 ; 一插座引导器,覆盖该插座板,其具有一开放部份 以使该半导体插入或拔出,从而将该半导体连接至 该插座板之该连接针脚;及 一间隔器,位于该插座板和该插座引导器之间,在 各该载具的一表面接触该插座引导器之前,该间隔 器系先接触插入该插座引导器一内侧之该半导体 的一表面,来保持该半导体和该插座板之间的一预 定距离。 2.如申请专利范围第1项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该间隔器为具有一预定厚度之平板 状结构,其中央设有一开放部份以使该插座结构之 该等连接插头共同穿过。 3.如申请专利范围第1项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该间隔器为具有一预定厚度之平板 状结构,其上设有复数穿透孔以使该插座结构之各 该连接针脚分别穿过。 4.如申请专利范围第1项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该间隔器与该插座板系一体成形。 5.如申请专利范围第1项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该间隔器分开设置为复数个。 6.如申请专利范围第1项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该间隔器由树脂制成。 7.如申请专利范围第1项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中更包括一设置在该插座引导器一内 侧以确定该间隔器位置的定位单元。 8.如申请专利范围第7项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该定位单元包括有: 至少一定位柱,垂直设置在该插座引导器内侧; 至少一定位孔,其依照各该定位柱设置,以使各该 位置定位柱从中穿过;及 至少一定位凹槽,依照各该位置定位柱设置以使各 该定位柱插入。 9.如申请专利范围第7项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中该定位单元系为复数个突出于该插 座板之引导凸块,以支撑各该间隔器的角落。 10.如申请专利范围第5项所述之半导体测试设备之 插座结构,其中更包括一设置在该插座引导器一内 侧之定位元件以确定各该间隔器位置。 11.如申请专利范围第10项所述之半导体测试设备 之插座结构,其中该定位单元系为复数个突出于该 插座板之引导凸块,以支撑各该间隔器的角落。 图式简单说明: 第1图为习知技术半导体测试设备之插座结构的剖 面图; 第2图为本发明第一实施例的半导体测试设备之插 座结构的分解透视图; 第3图为第2图所示之插座结构的截面透视图; 第4图和第5图为第2图所示之插座结构在不同厚度 的半导体与之连接时重要部件的剖面图; 第6图为依照本发明第二实施例的插座结构的分解 透视图; 第7图和第8图为第6图所示之插座结构在不同厚度 的半导体与之连接时重要部件的剖面图;及 第9图为依照本发明第三实施例的半导体测试设备 之插座结构的分解透视图。 |
