发明名称 积体电路测试之监控方法及系统
摘要 本发明之积体电路测试之监控系统,包括一伺服器连线于一积体电路自动测试机及一用户端电脑。上述系统所执行的积体电路测试之监控方法如下:首先,提供该标准参数设定档于该伺服器中;接着下载该标准参数设定档至该积体电路自动测试机中,其中该积体电路自动测试机系连线于该伺服器;并且选择性地修改该标准参数设定档;以及记录一下载事件与一修改事件至该伺服器中。
申请公布号 TW200801543 申请公布日期 2008.01.01
申请号 TW095121059 申请日期 2006.06.13
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 胡朝雄;郭黛凤;卢忻杰
分类号 G01R31/26(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人 李长铭
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号