发明名称 植氧分离(SIMOX)晶圆之制造方法
摘要 一种SIMOX(植氧分离)晶圆系经由将氧离子植入矽基底的表面并接着实施高温退火而制造,其中事先形成具有较目标SOI膜厚度厚之厚度之SOI膜,并于与清理步骤分开配置之蚀刻步骤实施该SOI膜厚度的最后调整。
申请公布号 TW200802695 申请公布日期 2008.01.01
申请号 TW096110635 申请日期 2007.03.27
申请人 上睦可股份有限公司 发明人 村上义男;冲田宪治
分类号 H01L21/762(2006.01) 主分类号 H01L21/762(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本