发明名称 | 用以形成含矽膜之连续沈积制程 | ||
摘要 | 一种连续沈积处理中形成Si膜之方法。该方法包含:提供该基板至一处理室中;藉着将该基板暴露至一氯化之矽烷气体来沈积一含氯Si膜;及乾蚀刻该含氯Si膜以减少该Si膜之氯含量。可以选择性或非选择之沈积将该Si膜沈积至该基板上,而该沈积可为自我限制性或非自我限制性。其他实施例提供一种在连续沈积处理中形成SiGe膜的方法。 | ||
申请公布号 | TW200802604 | 申请公布日期 | 2008.01.01 |
申请号 | TW095130071 | 申请日期 | 2006.08.16 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 安东尼 迪普;吴承和;艾伦J 莱斯 |
分类号 | H01L21/314(2006.01) | 主分类号 | H01L21/314(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |