一种JTAG模块及应用该模块的调试方法

摘要

本发明提供了一种JTAG模块，其核心是在JTAG模块中增加一安全模块，该安全模块接收JTAG模块中测试访问端口(TAP)的指令，并将接收到的指令传送给相应的寄存器或测试访问端口控制器。同时，本发明还提供了一种应用上述JTAG模块的调试方法，当需要调试时，首先将安全模块关闭，然后再进行正常的调试工作，此时安全模块不干预芯片的测试与开发流程从，当调试工作完成后，开启安全模块，从而关闭JTAG边界扫描测试结构中的测试访问端口，即封闭JTAG接口中的时钟，输入，输出信号，从而使攻击者无法利用JTAG口获取SOC芯片内部的数据，因而解决了针对SOC的可测性与可控性及安全性的矛盾。

主权项

1、一种JTAG模块，至少包括测试访问端口(460)，测试访问端口控制器(440)、指令寄存器(430)和包含边界扫描寄存器的测试数据寄存器组(420)，其特征在于，该JTAG模块进一步包括：由寄存器模块(451)和逻辑处理模块(452)构成的安全模块(450)，其中，所述寄存器模块(451)，接收来自待测芯片内核逻辑(410)的片选信号和启闭安全模块的数据信号，并将接收的信号传送给逻辑处理模块(452)；所述逻辑处理模块(452)，经测试访问端口(460)接收来自外部设备的控制指令或数据，并根据来自寄存器模块(451)的信号对接收到的指令进行逻辑处理后，将逻辑处理后的控制指令传送给测试访问端口控制器(440)和指令寄存器(430)，将逻辑处理后的数据传送给测试数据寄存器组(420)；或者，接收来自测试数据寄存器组(420)的测试结果信息，并根据来自寄存器模块(451)的信号将该接收到结果信息进行逻辑处理后，将逻辑处理后的结果信息经测试访问端口(460)传送给外部设备。