发明名称 |
光信息记录介质、介质特性规定方法、介质特性检查方法、信号检测方法、信号检测电路、及光信息记录再生装置 |
摘要 |
一种具有可记录的多个记录层的光信息记录介质,其中所述多个记录层中、记录层A(第二层)的某一区域X中的各种信号特性,由在照射到所述区域X的光束的光线轴上对于所述记录层A(第二层)邻接到入射端的记录层B(第一层)的区域Y是已记录区的条件来决定。由此,抑制来自邻接的记录层的漏入光引起的各种信号特性的测定偏差、误差,从而可以进行可靠性和互换性、再生性高的特性值的介质参数的管理、规定。 |
申请公布号 |
CN100358014C |
申请公布日期 |
2007.12.26 |
申请号 |
CN200480009780.0 |
申请日期 |
2004.07.29 |
申请人 |
株式会社理光 |
发明人 |
前川博史 |
分类号 |
G11B7/004(2006.01);G11B7/24(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/004(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
邵亚丽;李晓舒 |
主权项 |
1.一种光信息记录介质,具有可记录的多个记录层,其特征在于,在入射到所述多个记录层中的第一记录层的光束的光线轴上、在入射端一侧与所述第一记录层邻接的第二记录层的区域是已记录区的情况下,从所述第一记录层接收到的轨道误差信号具有在所述光信息记录介质的凹槽中心零交的信号波形,并且被归一化的所述轨道误差信号的信号特性满足0.22<归一化轨道误差信号<0.8的条件。 |
地址 |
日本东京都 |