| 主权项 |
1.一种可对宇宙射线检测响应之系统,其包含: 一第一宇宙射线检测器,用以检测一第一宇宙射线 与产生指出该第一宇宙射线的检测之一第一宇宙 射线检测信号;与一第二宇宙射线检测器,用以检 测一第二宇宙射线与产生指出该第二宇宙射线的 检测之一第二宇宙射线检测信号; 第一电路,用以接收第一输入信号与执行多个第一 作业以产生第一输出信号,且其中该第一电路推测 该第一宇宙射线检测器将未检出宇宙射线,但响应 于该第一宇宙射线检测信号,该第一电路会重新执 行至少一些该等第一作业;以及 第二电路,用以接收第二输入信号与执行多个第二 作业以产生第二输出信号,且其中该第二电路推测 该第二宇宙射线检测器将未检出宇宙射线,但响应 于该第二宇宙射线检测信号,该第二电路会重新执 行至少一些该等第二作业。 2.如申请专利范围第1项所述之系统,其中响应于该 第一宇宙射线检测信号,该第一电路丢弃该第一电 路在内部所产生之一些信号。 3.如申请专利范围第1项所述之系统,其中该第一电 路亦接收先前由该第一电路产生之中间资料信号, 以重新产生该等第一输出信号。 4.如申请专利范围第1项所述之系统,进一步包括用 以保存该第一电路所产生之中间资料信号的暂时 储存器。 5.如申请专利范围第4项所述之系统,其中该暂时储 存器亦保存将由该第一电路执行之指令。 6.如申请专利范围第5项所述之系统,其中该第一电 路系在一晶片上,且该暂时储存器系与该第一电路 在相同晶片上。 7.如申请专利范围第5项所述之系统,其中该第一电 路系在一晶片上,且该暂时储存器系在一不同晶片 上。 8.如申请专利范围第1项所述之系统,其中该第一宇 宙射线检测器系在支撑包括该第一电路之一作用 区域之一基体中。 9.如申请专利范围第1项所述之系统,其中该第一电 路系在一第一晶片中,且其中该系统进一步包含一 第二晶片,该第二晶片具有用以接收指出检测到该 宇宙射线之该第一宇宙射线事件信号的宇宙射线 响应电路。 10.如申请专利范围第9项所述之系统,其中该第一 宇宙射线响应电路请求该第一电路重新产生该等 信号给该第二电路。 11.如申请专利范围第1项所述之系统,其中该第一 宇宙射线系透过该第一宇宙射线与含有该第一电 路之一晶片的一相互作用效应之检测而间接地被 检出。 12.一种可对宇宙射线检测响应之系统,其包含: 一第一宇宙射线检测器,用以检测一第一宇宙射线 与产生指出该第一宇宙射线的检测之一宇宙射线 检测信号;与一第二宇宙射线检测器,用以检测一 第二宇宙射线与产生指出该第二宇宙射线的检测 之一第二宇宙射线检测信号; 第一电路,用以接收第一输入信号与执行多个第一 作业以响应于该等输入信号而产生第一输出信号, 且其中响应于该第一宇宙射线检测信号,该第一电 路重新接收至少一些该等第一输入信号且重新产 生该等第一输出信号;以及 第二电路,用以接收第二输入信号与执行多个第二 作业以响应于该等输入信号而产生第二输出信号, 且其中响应于该第二宇宙射线检测信号,该第二电 路重新接收至少一些该等第二输入信号且重新产 生该等第二输出信号。 13.如申请专利范围第12项所述之系统,其中响应于 该第一宇宙射线检测信号,该第一电路丢弃由该第 一电路在内部所产生之一些信号。 14.如申请专利范围第12项所述之系统,其中为重新 产生该等第一输出信号,该第一电路亦接收先前由 该第一电路产生之中间资料信号。 15.如申请专利范围第12项所述之系统,进一步包括 用以保存由该第一电路产生之中间资料信号的暂 时储存器。 16.如申请专利范围第15项所述之系统,其中该暂时 储存器亦保存将由该第一电路执行之指令。 17.如申请专利范围第16项所述之系统,其中该第一 电路系在一晶片上,且该暂时储存器系与该第一电 路在相同晶片上。 18.一种可对宇宙射线检测响应之系统,其包含: 一第一晶片,包括: 用以接收一第一宇宙射线事件信号之第一宇宙射 线响应电路,与用以接收一第二宇宙射线事件信号 之第二宇宙射线响应电路; 第一电路,用以接收第一输入信号与产生第一输出 信号,且其中该第一电路推测宇宙射线未遭检出, 但响应于一宇宙射线事件信号,该宇宙射线响应电 路使该第一电路忽略该等第一输入信号与重新接 收该等第一输入信号;以及 第二电路,用以接收第二输入信号与产生第二输出 信号,且其中该第二电路推测宇宙射线未遭检出, 但响应于一宇宙射线事件信号,该宇宙射线响应电 路使该第二电路忽略该等第二输入信号与重新接 收该等第二输入信号。 19.如申请专利范围第18项所述之系统,其中只有在 该等第一输入信号中之错误被检出且无法被修正 时,该宇宙射线响应电路才使该第一电路忽略该等 第一输入信号并重新接收该等第一输入信号。 20.如申请专利范围第18项所述之系统,其进一步包 含与该第一晶片相关联之一第一及一第二宇宙射 线检测器。 21.如申请专利范围第18项所述之系统,其中该第一 宇宙射线响应电路请求另一晶片重新送出该等第 一输入信号。 22.一种可对宇宙射线检测响应之系统,其包含: 一第一宇宙射线检测器,用以检测第一宇宙射线与 产生指出该等第一宇宙射线的检测之第一宇宙射 线检测信号;与一第二宇宙射线检测器,用以检测 第二宇宙射线与产生指出该等第二宇宙射线的检 测之第二宇宙射线检测信号; 第一电路,用以接收第一输入信号与产生第一输出 信号,且其中响应于该等宇宙射线检测信号,该第 一电路试图检测出与校正由该等第一宇宙射线造 成之任何错误;以及 第二电路,用以接收第二输入信号与产生第二输出 信号,且其中响应于该等宇宙射线检测信号,该第 二电路试图检测出与校正由该等第二宇宙射线造 成之任何错误。 23.如申请专利范围第22项所述之系统,其中该等宇 宙射线检测器系在支撑包括该第一电路之一作用 区域之一基体中。 24.如申请专利范围第22项所述之系统,其中该等错 误包括软错误与因该等软错误所造成之其他错误 。 图式简单说明: 第1图为包括具有依据本发明之一些实施例的电路 与宇宙射线检测器之晶片的一系统之示意方块图 呈现。 第2与3图的每一个为依据本发明之一些实施例的 第1图之晶片中的电路之示意方块图呈现。 第4与5图的每一个为依据本发明之一些实施例的 晶片之示意方块图呈现。 第6图为依据本发明之一些实施例的具有二晶片之 系统。 第7与8图的每一个为依据本发明之一些实施例的 晶片之示意方块图呈现。 第9与10图为包括依据本发明之一些实施例的一晶 片与三个宇宙射线检测器之一系统的示意方块图 呈现。 第11图为包括依据本发明之一些实施例的的数晶 片与一系统之一系统的示意方块图呈现。 第12图为包括依据本发明之一些实施例的一晶片 与三个宇宙射线检测器之一系统的示意方块图呈 现。 第13与14图的每一个为依据本发明之一些实施例的 包括二宇宙射线检测器之一晶片的侧面断面图之 示意方块图呈现。 第15图为依据本发明之一些实施例的包括二宇宙 射线检测器之一晶片与一封装体的侧面断面图之 示意方块图呈现。 第16、17与18图的每一个为依据本发明之一些实施 例的包括一宇宙射线检测器之一晶片的侧面断面 图之示意方块图呈现。 第19图为依据本发明之一些实施例的包括二宇宙 射线检测器之一晶片与一封装体的侧面断面图之 示意方块图呈现。 第20图为依据本发明之一些实施例的一宇宙射线 检测器、一电流测量电路与一放大器之示意方块 图呈现。 第21图为依据本发明之一些实施例的包括一宇宙 射线之一晶片的侧面断面图之示意方块图呈现。 第22与23图的每一个为依据本发明之一些实施例的 与宇宙射线检测器关联之一晶片的示意方块图呈 现。 第24与25图的每一个为依据本发明之一些实施例的 可被使用之电路的示意方块图呈现。 |
