测试电路、选择器和半导体集成电路

摘要

本发明涉及的测试电路是进行输出与同一节点连接的第一三态元件和第二三态元件的测试的测试电路，具有测试输出端子和测试单元，该测试单元根据上述节点的电压与阈值的大小，向上述测试输出端子输出第一逻辑值或第二逻辑值，在上述第一三态元件要向上述节点输出高电平的信号，并且上述第二三态元件要向上述节点输出低电平的信号的情况下，上述测试单元将上述节点上出现的中间电位转换为第一逻辑值，向上述测试输出端子输出上述第一逻辑值。

主权项

1、一种测试电路，进行输出与同一节点连接的第一三态元件和第二三态元件的测试，其特征在于，具有：测试输出端子；测试单元，根据上述节点的电压与阈值的大小，向上述测试输出端子输出第一逻辑值或第二逻辑值，在上述第一三态元件要向上述节点输出高电平的信号，并且上述第二三态元件要向上述节点输出低电平的信号的情况下，上述测试单元将上述节点上出现的中间电位转换为第一逻辑值，向上述测试输出端子输出上述第一逻辑值。