发明名称 |
métodos para calibrar os nìveis de dopagem para pelo menos duas camadas de dopagem delta incluìdas em uma estrutura de semicondutor em multicamada e para gerar uma estrutura de semicondutor em multicamada, e, estruturas de semicondutor em multicamada e de poço quántico múltiplo |
摘要 |
MéTODOS PARA CALIBRAR OS NìVEIS DE DOPAGEM PARA PELO MENOS DUAS CAMADAS DE DOPAGEM DELTA INCLUìDAS EM UMA ESTRUTURA DE SEMICONDUTOR EM MULTICAMADA E PARA GERAR UMA ESTRUTURA DE SEMICONDUTOR EM MULTICAMADA, E, ESTRUTURAS DE SEMICONDUTOR EM MULTICAMADA E DE POçO QUANTICO MúLTIPLO. Em um método de calibração, a relação entre concentrações de dopante de camadas de dopagem <SYM> em uma estrutura de semicondutor em multicamada e parâmetros de processo é determinada em S1, com base em espécimes em volume múltiplos do material no qual as camadas de dopagem <SYM> estão localizadas. Uma concentração de dopante desejada é selecionada em S2, e a estrutura de semicondutor com níveis de dopagem predeterminados pode ser gerada em S3 com base na relação entre os parâmetros de processo e as concentrações de dopagem predeterminadas.
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申请公布号 |
BRPI0419177(A) |
申请公布日期 |
2007.12.18 |
申请号 |
BR2004PI19177 |
申请日期 |
2004.11.11 |
申请人 |
ERICSSON TELECOMUNICACOES S.A. |
发明人 |
PATRICIA LUSTOZA DE SOUZA;CHRISTIANA VILLAS-BEAS TRIBUZY;MAURICIO PAMPLONA PIRES;SANDRA MARCELA LANDI |
分类号 |
A01B71/04;H01L21/66;H01L29/36 |
主分类号 |
A01B71/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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