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发明名称 ERROR CATCH RAM FOR MEMORY TESTER HAS SDRAM MEMORY SETS CONFIGURABLE FOR SIZE AND SPEED
摘要
申请公布号 KR100786418(B1) 申请公布日期 2007.12.17
申请号 KR20010058049 申请日期 2001.09.19
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G11C7/00;G06F12/06;G06F12/16;G11C29/56 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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