发明名称 光学测定装置及光学测定方法
摘要 提供一种:以简单的构造,而将被检查物藉由彩色画像来作3维观测的光学测定装置。光学测定装置,系具备有对物透镜系,其系将被输入之第1波长的第1光集束于被检查物,而将从该被检查物所反射之第1反射光输出,并将被输入之第2波长的第2光分割为第2参考光以及第2测定光,而将第2测定光集束于被检查物,将从被检查物所反射之第2反射光作输出,同时将第2参考光作反射并使其与第2反射光相互干涉,而输出第3反射光,使用前述第1反射光、前述第2反射光与前述第3反射光之干涉,而产生前述被检查物之3维画像。
申请公布号 TW200745602 申请公布日期 2007.12.16
申请号 TW096111900 申请日期 2007.04.03
申请人 电产丽德股份有限公司 发明人 神谷滋雄
分类号 G02B21/22(2006.01) 主分类号 G02B21/22(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本