发明名称 被复覆层之厚度计量机构及使用它之被覆层形成装置
摘要 一种用于边输送导电性长条基材(1),边连续确认被覆层的厚度之计量机构,其设于藉由被覆处理基地在该基材(1)上形成该被覆层的装置中,用于计量该被覆层的静电容量值之检测部(4、8)系配置于上述基地的前后,施加于在该检测部(4、8)的该基材(1)之张力系设定为比施加于在该基地的该基材(1)之张力还大。藉此,于边连续输供给长条基材(1),边在其表面形成被覆层时,抑制输送速度的变动,使输送中的厚度检测部(4、8)之厚度方向的计量面之摇晃的影响成为最小限度,可以更高精度来计量被覆层的厚度。
申请公布号 TW200745509 申请公布日期 2007.12.16
申请号 TW096116387 申请日期 2007.05.09
申请人 住友电气工业股份有限公司 发明人 粟田英章;江村胜治;吉田健太郎
分类号 G01B7/06(2006.01) 主分类号 G01B7/06(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本