发明名称 用于抹除记忆体装置之方法以及多阶程式化记忆体装置
摘要 一种记忆体(150),包含第一电荷储存区域(164A),其系藉由隔离区域(170)而与第二电荷储存区域(164B)隔开。提供用于抹除记忆体(150)的技术,其中,电子以富勒-诺得汉(Fowler-Nordheim; FN)穿隧方式穿出至少一个之电荷储存区域(164A)、(164B)而进入基板(154)内,以抹除记忆体(150)之至少一个电荷储存区域。提供其它的技术,用于在多种不同阶(level)或状态下程式化单一的电荷储存区域。
申请公布号 TW200746397 申请公布日期 2007.12.16
申请号 TW096111971 申请日期 2007.04.04
申请人 史班逊有限公司 发明人 郑韦;丁锰
分类号 H01L27/112(2006.01) 主分类号 H01L27/112(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 美国