积体电路测试器(二) IC TESTER

摘要

本发明之目的在于实现一种积体电路测试器，用于不须采用偏移减算器，即可进行高解析度、高精度的测定。本发明系对于将受测试对象之输出以A/D转换器进行测定的积体电路测试器加以改良。本装置的特征为具备电压产生部，以根据受测试对象之输出而将上限基准电压、下限基准电压变动式地供应到A/D转换器。