发明名称 高分子化合物及正型光阻材料及使用其形成图型之方法
摘要 本发明系提供高能量线曝光下,高感度且具有高解像性,可抑制显像时之膨润,因此线边缘粗糙度较小,显像后之残渣较少的正型光阻材料。本发明系一种高分子化合物,其特征系具有下述一般式(1a)及(hb)表示之重复单位,(式中,R1系表示相同或不同之氢原子或甲基,R2系氢原子、醯基或酸不安定基,R3系氢原子、甲基或-CO2R8,R4系氢原子、甲基、或-CH2CO2R8,R8系表示氢原子或烷基,X系-CH2-、-O-或-S-,但是R5~R7之全部为氢原子时,X不为-CH2-,R5~R7系氢原子、甲基、三氟甲基、或-CO2R9,R9系氢原子、烷基或氟化之烷基、或酸不安定基,n系1~3的整数,a1、b1系0<a1<1.0、0<b1≦0.8的范围)。
申请公布号 TW200745762 申请公布日期 2007.12.16
申请号 TW096107677 申请日期 2007.03.06
申请人 信越化学工业股份有限公司 发明人 山润;金生刚;武田隆信
分类号 G03F7/039(2006.01);C08F220/10(2006.01);C08F232/08(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/039(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本