用于分类应答器之测试系统

摘要

本发明是有关于一种用于测试一应答器(8)之参数的测试系统(1)，该应答器具有一读取器单元(2)，以供决定该应答器(8)之参数；具有一读取器天线(4)；具有拥有不同预定衰减值，而经排置于该读取器单元(2)与该读取器天线(4)之间的复数个衰减构件(5)；以及具有一控制单元(7)，以供透过该等不同衰减构件(5)将该读取器天线(4)接续地连接至该读取器单元(2)，并且藉由该读取器单元(2)决定该参数。