| 发明名称 | 管理记录介质中的缺陷的方法和设备 | ||
| 摘要 | 一种管理记录介质缺陷的方法、设备和计算机可读介质以及一种缺陷被管理的记录介质。所述记录介质包括：备用区，在其中形成有作为所述记录介质的缺陷区的替代的替换区；和临时缺陷管理区，在其中记录有用于指定所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息，其中，关于所述缺陷区的位置信息和状态信息被记录在所述替换区中。因此，即使对所述记录介质的记录介质缺陷管理被异常结束，也可恢复缺陷信息。 | ||
| 申请公布号 | CN101083087A | 申请公布日期 | 2007.12.05 |
| 申请号 | CN200710139130.3 | 申请日期 | 2004.04.22 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛;高祯完;李坰根 |
| 分类号 | G11B7/0037(2006.01);G11B7/007(2006.01);G11B20/18(2006.01) | 主分类号 | G11B7/0037(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 韩明星;冯敏 |
| 主权项 | 1、一种管理记录介质中的缺陷的方法，包括：将用于所述记录介质的缺陷区的替换区的数据记录在备用区中；和将用于识别所述缺陷区和对应的替换区的临时管理信息记录在所述记录介质的临时缺陷管理区中，其中，关于所述缺陷区的位置信息被记录在所述替换区中。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416 | ||