发明名称 一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法
摘要 本发明属于微电子学与分子电子学中的微细加工领域,特别是一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法。其步骤如下:1.在基片表面上淀积绝缘层薄膜;2.在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到下电极图形;3.蒸发制备下电极金属;4.金属剥离得到交叉线下电极;5.在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;6.在有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;7.在保护层上面旋涂双层光刻胶,电子束曝光、显影得到上电极图形;8.斜向蒸发制备上电极金属薄膜;9.金属剥离得到交叉线上电极;10.干法刻蚀保护层,完成交叉线有机分子器件的制备。
申请公布号 CN101083301A 申请公布日期 2007.12.05
申请号 CN200610012051.1 申请日期 2006.05.31
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 商立伟;涂德钰;王丛舜;刘明
分类号 H01L51/40(2006.01) 主分类号 H01L51/40(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 段成云
主权项 1、一种纳米级交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,是由两次电子束光刻、三次金属蒸发、一次有机薄膜沉积生长,两次干法刻蚀,获得交叉线有机分子器件的;其特征在于,其步骤如下:步骤1、在基片表面上淀积绝缘层薄膜;步骤2、在绝缘层薄膜表面上旋涂电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到下电极图形;步骤3、蒸发制备下电极金属薄膜;步骤4、金属剥离得到交叉线下电极;步骤5、在下电极上覆盖生长有机分子薄膜;步骤6、在有机分子薄膜上蒸发制备金属保护层;步骤7、在保护层上面旋涂双层电子束抗蚀剂,电子束曝光、显影得到上电极图形;步骤8、斜向蒸发制备上电极金属薄膜;步骤9、金属剥离得到交叉线上电极;步骤10、干法刻蚀保护层和有机薄膜层,完成交叉线有机分子器件的制备。
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