发明名称 一种用于锗晶片的抛光液及其制备方法
摘要 一种用于锗晶片的抛光液,由磨料、表面活性剂、pH值调节剂、螯合剂和去离子水组成,各种成分所占的重量百分比为:磨料10.0%~50.0%;表面活性剂0.1%~1.0%;pH值调节剂1.0%~5.0%;螯合剂0.1%~1.0%;去离子水为余量;抛光液的pH值范围为8~12,粒径为15nm~100nm。所述抛光液的制备方法是:首先将制备抛光液的各种组分分别进行过滤净化处理,然后在千级净化室的环境内,将各种组分在真空负压的动力下,通过质量流量计输入容器罐中并充分搅拌,混合均匀即可。本发明的优点是:抛光速率快,平坦度好;粒径小,晶片表面损伤小;抛光液制备简单,容易操作。
申请公布号 CN101081965A 申请公布日期 2007.12.05
申请号 CN200610087601.6 申请日期 2006.06.02
申请人 天津晶岭电子材料科技有限公司 发明人 仲跻和
分类号 C09G1/02(2006.01);C09G1/14(2006.01) 主分类号 C09G1/02(2006.01)
代理机构 国嘉律师事务所 代理人 高美岭
主权项 1.一种用于锗晶片的抛光液,其特征在于:由磨料、表面活性剂、PH值调节剂、螯合剂和去离子水组成,各种成分所占的重量百分比为:磨料10.0%~50.0%;表面活性剂0.1%~1.0%;PH值调节剂1.0%~5.0%;螯合剂0.1%~1.0%;去离子水为余量;抛光液的PH值范围为8~12,粒径为15nm~100nm。
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