发明名称 |
一种红外扫描监测回转窑筒体温度的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种红外扫描监测回转窑筒体温度的方法,包括步骤:获取旋转窑体表面的温度数据及相应的位置信号,将其转化为数字形式后传送到计算机系统,计算机系统对接收到的温度数据进行预处理,计算机系统综合预处理后的温度数据和相应的位置信号得出温度监测结果,并将窑炉正常工作时的特征温度点构成的特征向量作为标准样本向量,将采样得到的特征温度点的特征向量作为实测样本向量,计算标准样本向量与实测样本向量的欧氏距离,将其与预设的聚类结果准则标准比较,得出窑炉局部异常温度预报结果。本方法可以实现对回转窑筒体温度的实时监测,极大地减小劳动强度和生产事故,提高窑的运转率和产量、质量,降低生产成本和非计划停窑时间。 |
申请公布号 |
CN100353152C |
申请公布日期 |
2007.12.05 |
申请号 |
CN03146201.4 |
申请日期 |
2003.07.04 |
申请人 |
北方工业大学 |
发明人 |
孙德辉;李正熙;张永忠;王捷;李颖红;宋浩;胡敦利;王峰 |
分类号 |
G01J5/60(2006.01);F23N5/08(2006.01) |
主分类号 |
G01J5/60(2006.01) |
代理机构 |
信息产业部电子专利中心 |
代理人 |
郭禾 |
主权项 |
1、一种红外扫描监测回转窑筒体温度的方法,其特征在于包括以下步骤:(1)、通过安装在窑筒上方的红外探测器以轴向扫描方式获得旋转窑体表面温度数据,通过安装在窑筒的位置信号生成装置获得温度数据相应的位置信号;(2)、通过和红外探测器安装在一起的微电脑系统将温度数据及相应的位置信号转化为数字形式;(3)、将转化为数字形式后的温度数据和相应的位置信号传送到计算机系统;(4)、计算机系统对接收到的温度数据进行预处理,方法为:在同一采样周期内用平均值法,连续采样多次取平均值;在不同的采样周期里,对相邻温度点信号进行连续多次采样,对其加权平均;(5)、计算机系统综合预处理后的温度数据和相应的位置信号,得出温度监测结果,并且将窑炉正常工作时的特征温度点构成的特征向量作为标准样本向量,将采样得到的特征温度点的特征向量作为实测样本向量,计算标准样本向量与实测样本向量的欧氏距离,将其与预设的聚类结果准则标准比较,得出窑炉局部异常温度预报结果。 |
地址 |
100041北京市石景山区晋元庄路5号 |