发明名称 迟滞曲线量测方法
摘要 本发明系为一种迟滞曲线量测方法,其系在于A、定义误差;B、定义新的适应函数;C、利用类随机序列(QRS)产生起始族群;D、自身突变每个体pi,i=1,...,N之基因,使族群之大小倍增;E、再次计算新生族群;F、此时若fΣ之值收敛至最小值,即为最佳值;若fΣ之值尚未收敛,则回至步骤D。
申请公布号 TWI290633 申请公布日期 2007.12.01
申请号 TW095101538 申请日期 2006.01.16
申请人 远东技术学院 发明人 洪美玲;颜锦柱;姚贺腾
分类号 G01R33/14(2006.01) 主分类号 G01R33/14(2006.01)
代理机构 代理人 李文祯 台南市中西区府前路2段239号2楼
主权项 1.一种迟滞曲线量测方法,其实施步骤如下: A、定义误差; B、定义新的适应函数; C、利用类随机序列(QRS)产生起始族群为P0=[p1,p2,... ,pN]; D、自身突变每个体pi,i=1,...,N之基因,使族群之大 小倍增; E、再次计算新生族群; F、设所有个体适应函数値之总合= f;此时若f 之値收敛至最小値,即为最佳値;若f之値尚未收 敛,则回至步骤D。 2.如申请专利范围第1项所述之迟滞曲线量测方法, 其中步骤A之误差系为ek=H(kT)-Hexp(kT);T为取样时间,H (kT)是电脑模拟,输入(t)时在时间kT所得到之位移 値,而Hexp(kT)则是受测平台在输入(t)时的实际量 测値。 3.如申请专利范围第1项所述之迟滞曲线量测方法, 其中步骤B之适应函 数系为 。 4.如申请专利范围第1项所述之迟滞曲线量测方法, 其中步骤C之P0=[p1,p2,...,pN]族群大小为N,而S={z R3|0 ≦zi≦∞,i=1,2,3}为搜寻范围,pi S,i=1,2,...,N,并计算 族群中个体之适应函数値fi=f(pi),其中pi,i=1, 2,...,N,且 5.如申请专利范围第1项所述之迟滞曲线量测方法, 其中步骤D之族群大小倍增,即族群大小由N扩增为2 N,而pi+N由方程式 ,之方式产生,其中pi,j表示第i个体的第j基因 元素:而 表示,均値(meanvalue)为0,泛数(variance)为 之 随机之高斯(Gaussion)变数, 而f为所有个体之适应函数値之总合,为调整 影响程度之参数。 6.如申请专利范围第1项所述之迟滞曲线量测方法, 其中步骤E可依据pi+N,i=1,2,...,N之通应函数値fi+N并 随机地将新旧族群pi,i=1,2,...,N和pj,j=N+1,...,2N随机 竞争;若fi<fj,则pi为优胜者并存活下来;否则pj为优 胜者,而pi淘汰,由pj取代;经过随机竞争程序之后, 有N个胜利者存活下来,同时具有最小适应函数値 之个体安排为p1。 7.如申请专利范围第1项所述之迟滞曲线量测方法, 其中步骤E之最佳値其基因g*=[*,a*,b*]即为最佳之 PID控制器参数,此参数将使得系统性能指标之积分 绝对误差(IAE)最小。 图式简单说明: 第一图系为本发明实施例输入电压(t)=30+15sin(t) 之磁滞曲线示意图。 第二图系为本发明适应函数之收敛曲线示意图。 第三图系为本发明实际量测(实线)及电脑模拟(虚 线)之位移量相对外加电压之磁滞曲线示意图。 第四图系为本发明实际量测位移量与电脑模拟位 移値之误差相对叠代次数之误差曲线示意图。
地址 台南县新市乡中华路49号