发明名称 利用频谱分析之变压器检测方法
摘要 本发明是关于一种利用频谱分析之变压器检测方法,其检测方法包括下列步骤:(A)提供变压器、控制单元、示波器、及信号产生器,其中,控制单元系电连接至示波器、及信号产生器,变压器亦电连接至示波器、及信号产生器,变压器包括有一输入端、及一输出端;(B)输入额定电压、及测试频率至变压器之输入端;(C)记录变压器之输入端、及输出端之电压;(D)计算变压器之输入端、及输出端对信号产生器之额定电压之比值,以取得第一比值、及第二比值。藉此,俾能达到节省变压器检测成本、缩短量测时间、及容易操作之目的。
申请公布号 TWI290629 申请公布日期 2007.12.01
申请号 TW094142883 申请日期 2005.12.06
申请人 大同股份有限公司 发明人 张耀光;王信评;周全福
分类号 G01R23/04(2006.01);H01F19/00(2006.01) 主分类号 G01R23/04(2006.01)
代理机构 代理人 吴冠赐 台北市松山区敦化北路102号9楼;杨庆隆 台北市松山区敦化北路102号9楼;林志鸿 台北市松山区敦化北路102号9楼
主权项 1.一种利用频谱分析之变压器检测方法,包括: (A)提供一变压器、一控制单元、一示波器、以及 一信号产生器,其中,该控制单元系电性连接至该 示波器、及该信号产生器,该变压器亦系电性连接 至该示波器、及该信号产生器,该变压器包括有一 输入端、及一输出端; (B)输入一额定电压、及一测试频率至该变压器之 该输入端; (C)记录该变压器之输入端、及输出端之电压; (D)计算该变压器之该输入端对该信号产生器之额 定电压之比値,以取得一第一比値,计算该变压器 之该输出端对该信号产生器之额定电压之比値,以 取得一第二比値。 2.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其更包括一步骤(E):计算该第一比 値对该第二比値,以取得一第三比値。 3.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该步骤(B)之该测试频率范围 为1KHz至1MHz。 4.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该步骤(B)之该额定电压系6伏 特。 5.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该示波器更包括一第一检测 端、及一第二检测端,该示波器之该第一检测端系 连接至该变压器之输入端;该示波器之该第二检测 端系连接至该变压器之输出端。 6.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该信号产生器更包括一通用 介面滙流排。 7.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该控制单元更包括一通用介 面滙流排。 8.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该示波器更包括一通用介面 滙流排。 9.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该控制单元系为一电脑。 10.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该示波器包括一显示幕。 11.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该变压器之输入端系为该变 压器之高压侧。 12.如申请专利范围第1项所述之利用频谱分析之变 压器检测方法,其中,该变压器之输出端系为该变 压器之低压侧。 图式简单说明: 图1系本发明一较佳实施例之流程图。 图2系本发明一较佳实施例之系统方块图。 图3系本发明一较佳实施例之变压器之测试数据。 图4系本发明根据图3之测试数据所绘制之特性曲 线。
地址 台北市中山区中山北路3段22号