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发明名称 CIRCUIT FOR REPAIRING THE FAIL OF STAND_BY CURRENT AND A SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE USING THIS CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR100780687(B1) 申请公布日期 2007.11.30
申请号 KR20020000710 申请日期 2002.01.07
申请人 发明人
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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