发明名称 METHOD FOR DETECTING IRREGULARITIES IN AN OBJECT TO BE MEASURED
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erfassung von Unregelmäßigkeiten an einem Messobjekt (70), bei dem die Oberfläche des Messobjektes (70) von wenigstens einem Lichtbündel (77) aus wenigstens einer Lichtquelle (73,74) beleuchtet, das von der Oberfläche reflektierte Licht erfasst und in von einer Auswerteelektronik (40) mit einem Referenzbild der Oberfläche verglichen und über das Vorhandensein einer Unregelmäßigkeit entschieden wird. Um ein zuverlässiges Bild eines Messobjektes, beispielsweise eine im versiegelten Blister enthaltene Tablette oder Kapsel, auch bei nur schwachem Kontrastunterschied zu der an das Produkt angrenzenden Folie mit einfacheren Mitteln zu erzeugen, ist vorgesehen, dass die Lichtquelle (73,74) auf der Oberfläche des Messobjektes (70) einen eindimensionalen Lichtstreifen erzeugt, ein Sensor (75), welcher mehrere zweidimensional angeordnete lichtempfindliche Elemente aufweist, das reflektierte Licht erfasst und die Elemente von der Auswerteelektronik (40) abgetastet werden. Die Erfindung betrifft ferner eine Verpackungsmaschine zur Durchführung des Verfahrens.</p>
申请公布号 WO2007134632(A1) 申请公布日期 2007.11.29
申请号 WO2006EP10166 申请日期 2006.10.21
申请人 SCANWARE ELECTRONIC GMBH;TORSTEN, WIENZEK;MAETZIG, HARALD;SCHNEIDER, DIRK 发明人 TORSTEN, WIENZEK;MAETZIG, HARALD;SCHNEIDER, DIRK
分类号 G01N21/89;B07C5/342;B65B57/00;G01B11/00 主分类号 G01N21/89
代理机构 代理人
主权项
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