发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE HAVING DATA-COMPRESS TEST MODE
摘要
申请公布号 KR100780612(B1) 申请公布日期 2007.11.29
申请号 KR20060049121 申请日期 2006.05.31
申请人 发明人
分类号 G11C29/00;G11C7/10;H01L21/66 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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