发明名称 半导体元件与其中的多晶硅薄膜晶体管及其制造方法
摘要 形成于半导体基底上的一种薄膜晶体管,包括一多晶硅层、一栅极绝缘层、一氢原子供应层以及一栅极。多晶硅层形成于半导体基底上,其中多晶硅层的二侧端分别作为薄膜晶体管的源极与漏极,而该多晶硅层的部位则做为薄膜晶体管的通道。栅极绝缘层形成于多晶硅层上,氢原子供应层形成于栅极绝缘层上。其中氢原子供应层供应氢原子至多晶硅层的通道,使该多晶硅层中的多个未饱和键得以形成多个氢键,以避免该等未饱和键降低通道的载体移动效能。而栅极形成于氢原子供应层上表面,且位于通道的正上方。
申请公布号 CN100350629C 申请公布日期 2007.11.21
申请号 CN200410069751.5 申请日期 2004.07.14
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 叶光兆;徐文斌
分类号 H01L29/786(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L29/786(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 马娅佳
主权项 1.一种薄膜晶体管,形成于一半导体基底上,其特征在于,该薄膜晶体管包括:一多晶硅层,形成于该半导体基底上,其中该多晶硅层的二侧端分别作为该薄膜晶体管的源极与漏极,而该多晶硅层的中央部位则做为该薄膜晶体管的通道;一栅极绝缘层,形成于该多晶硅层上;一氢原子供应层,形成于该栅极绝缘层上,且该氢原子供应层包括四乙氧基硅;以及一栅极,形成于该氢原子供应层上表面,且位于该通道的正上方。
地址 台湾省新竹市
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