发明名称 |
半导体元件与其中的多晶硅薄膜晶体管及其制造方法 |
摘要 |
形成于半导体基底上的一种薄膜晶体管,包括一多晶硅层、一栅极绝缘层、一氢原子供应层以及一栅极。多晶硅层形成于半导体基底上,其中多晶硅层的二侧端分别作为薄膜晶体管的源极与漏极,而该多晶硅层的部位则做为薄膜晶体管的通道。栅极绝缘层形成于多晶硅层上,氢原子供应层形成于栅极绝缘层上。其中氢原子供应层供应氢原子至多晶硅层的通道,使该多晶硅层中的多个未饱和键得以形成多个氢键,以避免该等未饱和键降低通道的载体移动效能。而栅极形成于氢原子供应层上表面,且位于通道的正上方。 |
申请公布号 |
CN100350629C |
申请公布日期 |
2007.11.21 |
申请号 |
CN200410069751.5 |
申请日期 |
2004.07.14 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
叶光兆;徐文斌 |
分类号 |
H01L29/786(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/786(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
马娅佳 |
主权项 |
1.一种薄膜晶体管,形成于一半导体基底上,其特征在于,该薄膜晶体管包括:一多晶硅层,形成于该半导体基底上,其中该多晶硅层的二侧端分别作为该薄膜晶体管的源极与漏极,而该多晶硅层的中央部位则做为该薄膜晶体管的通道;一栅极绝缘层,形成于该多晶硅层上;一氢原子供应层,形成于该栅极绝缘层上,且该氢原子供应层包括四乙氧基硅;以及一栅极,形成于该氢原子供应层上表面,且位于该通道的正上方。 |
地址 |
台湾省新竹市 |