| 发明名称 | 用于检验项目上的射频识别（RFID）标签位置的装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于检验项目上的射频识别(RFID)标签位置的装置。本发明的一个实施例提供一种用于识别项目上的RFID标签位置的装置，其包括：项目支座；以及附着到项目支座上的RF天线，其中项目支座包括可读体积，可读体积中RF天线可以对RFID标签读取或写入，并且其中项目支座包括非可读体积，非可读体积中RF天线不能对RFID标签读取或写入。本发明还涉及用于检验项目上的射频识别(RFID)标签位置的方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101076837A | 申请公布日期 | 2007.11.21 |
| 申请号 | CN200580042504.9 | 申请日期 | 2005.11.04 |
| 申请人 | 3M创新有限公司 | 发明人 | 米凯莱·A·瓦尔德纳;大卫·P·埃里克森 |
| 分类号 | G08B23/00(2006.01);G06F19/00(2006.01) | 主分类号 | G08B23/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 李涛;钟强 |
| 主权项 | 1.一种装置，用于检验项目上的射频识别(RFID)标签的位置，其包括：项目支座；以及附着到该项目支座的RF天线，其中该项目支座包括可读体积，在可读体积中该RF天线能够对RFID标签进行读取或写入，并且其中该项目支座包括非可读体积，在非可读体积中该RF天线不能够对RFID标签进行读取或写入。 | ||
| 地址 | 美国明尼苏达州 | ||