| 发明名称 | 探测器阵列及设备 | ||
| 摘要 | 公开了一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。利用所述探测器阵列，能够提高交替双能射线对被检物体的扫描检查效率和材料识别正确率。 | ||
| 申请公布号 | CN101074935A | 申请公布日期 | 2007.11.21 |
| 申请号 | CN200610011943.X | 申请日期 | 2006.05.19 |
| 申请人 | 清华大学;清华同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 王学武;陈志强;李元景;钟华强;张清军;赵书清 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01);G01N23/083(2006.01) | 主分类号 | G01N23/04(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱进桂 |
| 主权项 | 1.一种探测器阵列，包括：第一线阵探测器，用于探测穿透被检物体的至少一个部分的第一射线；第二线阵探测器，与所述第一线阵探测器平行设置，用于探测与所述第一射线交替发射并穿透所述至少一个部分的第二射线。 | ||
| 地址 | 100084北京市海淀区清华大学 | ||