发明名称 半导体器件及其制造方法
摘要 催化元素被添加到非晶半导体膜中并对其进行热处理,从而产生具有良好质量的结晶半导体膜,使用该结晶半导体膜获得具有满意特性的TFT(半导体器件)。半导体层包括含有浓度为1×10<SUP>19</SUP>/cm<SUP>3</SUP>~1×10<SUP>21</SUP>/cm<SUP>3</SUP>并且属于元素周期表的15族的杂质元素,和浓度为1.5×10<SUP>19</SUP>/cm<SUP>3</SUP>~3×10<SUP>21</SUP>/cm<SUP>3</SUP>且属于元素周期表的13族的杂质元素的一个区域,而且该区域是留在半导体膜(特别是沟道形成区)中的催化元素向其移动的区域。
申请公布号 CN101075622A 申请公布日期 2007.11.21
申请号 CN200710109270.6 申请日期 2003.02.21
申请人 株式会社半导体能源研究所;夏普株式会社 发明人 仲泽美佐子;牧田直树
分类号 H01L27/12(2006.01);H01L29/786(2006.01) 主分类号 H01L27/12(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王小衡
主权项 1.一种半导体器件,包含:形成于基片上的n-沟道TFT和p-沟道TFT,n-沟道TFT和p-沟道TFT之中的每一个都具有一个半导体层,该半导体层包括位于绝缘膜之上的沟道形成区、源区、漏区和吸杂区,位于半导体层上的栅极绝缘膜,以及位于栅极绝缘膜上的栅电极,其中吸杂区在一个区域之外形成,在源区和漏区中的电子和空穴中的任何一种都向该区域移动。
地址 日本神奈川县厚木市