发明名称 |
表面改性的聚酰胺薄膜及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供表面改性的聚酰胺薄膜及其制造方法。所述方法在进行聚酰胺薄膜的表面改性时,可以简便、难以产生静电障碍、且没有微小的处理斑地对薄膜整体进行均匀的电晕放电处理。所述聚酰胺薄膜在其宽度方向以10cm间隔取测定点,以前述测定点为中心,在聚酰胺薄膜的宽度方向以2mm间隔、用10点的测定点测定聚酰胺薄膜的相对于水的接触角,将此时的最大值设定为θ1max,将最小值设定为θ1min,将平均值设定为θ1av,而且,当将全部的测定点中的θ1av的最大值设定为θ2max、将最小值设定为θ2min时,在全部的测定点中满足下面的(式1)及(式2),并且,满足下面的(式3)。θ1max-θ1min≤5deg. (式1);45deg.≤θ1av≤55deg. (式2);θ2max-θ2min≤5deg. (式3) |
申请公布号 |
CN101074293A |
申请公布日期 |
2007.11.21 |
申请号 |
CN200710128083.2 |
申请日期 |
2007.07.09 |
申请人 |
尤尼吉可株式会社;尤尼吉可宇治制造株式会社 |
发明人 |
木原澄人 |
分类号 |
C08J5/18(2006.01);C08L77/00(2006.01);B29C71/04(2006.01) |
主分类号 |
C08J5/18(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
苗堃;左嘉勋 |
主权项 |
1.一种表面改性的聚酰胺薄膜,其特征在于,在聚酰胺薄膜的宽度方向以10cm间隔取测定点,以所述测定点为中心,在所述聚酰胺薄膜的宽度方向以2mm间隔、用10点的测定点测定所述聚酰胺薄膜的相对于水的接触角,将此时的最大值设定为θ1max,将最小值设定为θ1min,将平均值设定为θ1av,而且,当将全部的测定点中的θ1av的最大值设定为θ2max、将最小值设定为θ2min时,在全部的测定点中满足下面的式1及式2,并且,满足下面的式3:θ1max-θ1min≤5deg. 式145deg.≤θ1av≤55deg. 式2θ2max-θ2min≤5deg. 式3。 |
地址 |
日本兵库县 |